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近日,精微光聚团队开发了一项新型微米级光谱共焦测量技术,该技术与原有的光强、光速、光路等测距技术相比有极大的进步,其将测量级别提升至微米级水平并显著提高测距的精度和速度,在测距方面取得重大突破。
在目前的工业异形精密零部件测距技术中,常用的方法是利用激光器发射光束,并通过接收器接收光信号,然后计算出光信号的传输时间来测距。但是,这种方法受到诸多如形状等因素的影响。 而本团队开发的光谱共焦测量技术在连接OSA光谱共焦仪后,用白光通过光纤在探头内透过分光棱镜解析成各种频率的光,并垂直形成焦点,当零部件触碰到焦点后,光进行反射,传输回OSA光谱仪中,就可以在光谱仪中读取各色光的波长,从而达到测距的目的。
这种方法不仅可以大大减少误差,而且具有更高的测量分辨率、更小的信号干扰失真和更快的测量速度,对于技术本身而言,它的精度更高、可测量的材质更多、测量角度范围也更广。团队成员表示,将继续探索光谱共焦测量技术的潜力,致力于打造更为高效、精准、稳定的光谱共焦测量技术,推动该领域的持续发展。该项技术未来有望在精密制造业,尤其是在电子器械、军工设备、精密仪器等领域得到广泛应用!
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